Discovery Sagaサイレントキーワード俯瞰

誘電物性 / 解析・評価 / トラップ / 可視化 / 光第2次高調波発生 / 電子デバイス・機器 / 電子・電気材料 / 電界 / 誘電体物性 / 長寿命化 / 界面 / 分極 / 絶縁体物性

本研究では、研究代表者が世界に先駆けて実現した光学的手法（EFISHG法）によるキャリア挙動の直接評価法を拡張し、EL輝度劣化の原因となるトラップキャリアを実空間およびエネルギー空間の両面からの評価を実現した。実空間測定ではCCDによるイメージング光学系と軸対称偏光顕微鏡を新たに構築し、トラップキャリアの３つの現れ方（１：電圧特性、２：時間特性、３：空間分布のパターン形成）を明確化した。エネルギー空間測定では、光励起、熱刺激、微弱電界発光による評価システムを構築し、トラップキャリア準位の分布をエネルギー分解能0.2 eVで測定した。