小さい面積・性能オーバーヘッドで故障を回避する論理回路レベルの設計技術の確立
【研究分野】計算機システム・ネットワーク
【研究キーワード】
PPC / 製造時故障 / 仕様変更 / 耐故障 / 高位合成 / LUT / ディペンダブル・コンピューティング / バイオチップ / 故障 / フィルムコンピュータ
【研究成果の概要】
LUTを回路の一部に使うPPC (Partially Programmable Circuit: 部分的に機能が書き換え可能な回路)と呼ばれる回路モデル用いて、面積および速度の両面のオーバーヘッドを従来の手法よりも少なくしながらも、製造後に判明した故障の一部を修正可能とするための回路の合成手法に関して研究を行い、(1) PPCを用いた回路設計手法、(2) PPCの修正能力を変更せずにLUTの面積コストを削減する手法、 (3) PPCを仕様変更に利用する手法、
(4) PPCの回路の検証手法、(5) PPCの回路による演算器の高位合成手法、およびPPCの応用方法などに関して研究成果をあげた。
【研究代表者】
【研究分担者】 |
冨山 宏之 | 立命館大学 | 理工学部 | 教授 | (Kakenデータベース) |
吉田 浩章 | 東京大学 | 大規模集積システム設計教育研究センタ | 助教 | (Kakenデータベース) |
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【研究連携者】 |
原 祐子 | 東京工業大学 | 理工学研究科 | 准教授 | (Kakenデータベース) |
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【研究種目】基盤研究(B)
【研究期間】2011-04-01 - 2015-03-31
【配分額】18,590千円 (直接経費: 14,300千円、間接経費: 4,290千円)