千葉大学大学院工学研究院の山田泰弘准教授らの研究チームは、長年「謎」とされてきた炭素材料のラマン分光法注1)やX線光電子分光法（XPS）注2）などのスペクトルに現れる欠陥由来の「謎」ピークの構造的起源を、原子レベルで解明することに成功しました。分光分析とシミュレーションの融合により、環状エーテルや非六員環注3)などの特定の原子構造がスペクトルに与える影響を明らかにした本成果は、炭素材料の構造をかつてない精度で解析することを可能にしました。これにより、欠陥の正確な性質を把握できる新たな評価基盤として、次世代材料の開発を加速し、航空...