産業技術総合研究所 研究量子コンピューターの大規模化を支える材料評価技術
－低温高周波部品の開発に必須な材料パラメーターを極低温から室温の範囲で高精度に決定－
－低温高周波部品の開発に必須な材料パラメーターを極低温から室温の範囲で高精度に決定－
【産学連携対象 全学共通分野 Discovery Saga】
【Sagaキーワード】
ハードウェア/プロセッサ/低消費電力化/無線通信/ミリ波/コンポーネント/人工知能（AI）/2次元電子系/イオントラップ/量子コンピュータ/広帯域/高周波/磁場/超伝導/量子ビット/定量評価/スピン波/スピン流/共振器/絶縁体/導波路/誘電体/誘電率/ケーブル/温度依存性/計測技術/量子ドット/磁性材料/電気伝導/導電率/スピン/トラップ/ひずみ/マイクロ/マイクロ波/共振周波数/極低温/金属材料/周波数/積層構造/超電導/低消費電力/層構造/ラット
発表・掲載日：2025/01/16 English
ポイント
4 K(-269 ℃)から300 K(27 ℃)の温度範囲で高周波基板材料の評価を実現3つの材料パラメーター（比誘電率・誘電正接・導電率）を同時に評価可能
低温域で使用する高周波部品の高密度化に貢献
論文情報
掲載誌：Applied Physics Letters [Editor's Pick]論文タイトル：Determination of microwave material properties at cryogenic temperatures
著者：Tomonori Arakawa, Yuto Kato, and Seitaro Kon
DOI：https://doi.org/10.1063/5.0242356