「特性X線」に関するサイレントキーワード「薄膜」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】陽電子消滅誘起特性X線分光法の開発
【研究代表者】兵頭 俊夫  東京大学   大学院・総合文化研究科   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090012484/	 
【研究分担者】
斎藤 晴雄 (斉藤 晴雄)  東京大学  大学院・総合文化研究科  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060235059/	
長嶋 泰之  東京大学  大学院・総合文化研究科  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060198322/