「半導体」に関するサイレントキーワード「走査プローブ顕微鏡」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】ケルビンフォース顕微鏡によるナノスケール半導体キャリア濃度分布の定量
【研究代表者】有田 誠  九州大学   工学研究院   助教 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000030284540/	
【研究連携者】     
本岡 輝昭  九州大学  工学研究院  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050219979/	
山内 貴志  九州大学  工学研究院  学術研究員  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070419620/	
波多野 睦子  東京工業大学  理工学研究科  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000417007/