「半導体」に関するサイレントキーワード「透過型電子顕微鏡(TEM)」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】セラミック薄膜における相化学的特異現象の解明とその誘起物性への応用
【研究代表者】水谷 惟恭  東京工業大学   大学院・理工学研究科   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060016558/	 
【研究分担者】
篠崎 和夫  東京工業大学  大学院・理工学研究科  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000196388/	
脇谷 尚樹  東京工業大学  大学院・理工学研究科  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040251623/	
木口 賢紀  東京工業大学  総合分析支援センター  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070311660/