「電子顕微鏡観察」に関するサイレントキーワード「界面」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】結晶模型による半導体/絶縁膜界面物性の評価
【研究代表者】大泊 厳 (大泊 巌)  早稲田大学   理工学部   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000030063720/