「イオンビーム」に関するサイレントキーワード「電子顕微鏡」が含まれる科研費採択研究2件

【研究名】格子欠陥をプローブとしたその場観察と組合せ照射による照射欠陥の顕在化技術
【研究代表者】関村 直人  東京大学   大学院工学系研究科(工学部)   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000010183055/	 
【研究分担者】
村上 健太  長岡技術科学大学  工学研究科  准教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050635000/	
山本 琢也  福井大学  附属国際原子力工学研究所  その他  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050212296/	

【研究名】組合せ照射概念に基づく照射欠陥発達挙動の研究
【研究代表者】関村 直人  東京大学   工学(系)研究科(研究院)   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000010183055/	
【研究連携者】     
村上 健太  東京大学  大学院工学系研究科  助教  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050635000/