「電子顕微鏡」に関するサイレントキーワード「はじき出し損傷」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】組合せ照射概念に基づく照射欠陥発達挙動の研究
【研究代表者】関村 直人  東京大学   工学(系)研究科(研究院)   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000010183055/	
【研究連携者】     
村上 健太  東京大学  大学院工学系研究科  助教  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000050635000/