「電子顕微鏡」に関するサイレントキーワード「疲労き裂進展」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】材料破壊機構解明のためのリアルタイムフラスタ解析技術の開発
【研究代表者】酒井 信介  東京大学   大学院・工学系研究科   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080134469/	 
【研究分担者】
泉 聡志  東京大学  大学院・工学系研究科  講師  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000030322069/