「走査型トンネル顕微鏡(STM)」に関するサイレントキーワード「欠陥」が含まれる科研費採択研究2件

【研究名】グラフェン欠陥構造に現れる局在スピン状態の制御
【研究代表者】藤井 慎太郎  東京工業大学   理学院   特任准教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070422558/	
【研究名】ナノスケール表面改質のためのイオン照射下高温STM観察
【研究代表者】大泊 巌  早稲田大学   理工学部   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000030063720/	 
【研究分担者】
品田 賢宏  早稲田大学  理工学部  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000030329099/	
嶋田 一義  早稲田大学  理工学部  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040308200/