「スケーリング」に関するサイレントキーワード「完全空乏型SOI」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】量子効果を積極利用した薄膜SOI MOSFETの性能向上とばらつき低減の研究
【研究代表者】平本 俊郎  東京大学   大規模集積システム設計教育研究センター   助教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000020192718/	 
【研究分担者】
藤島 実  東京大学  大学院・新領域創成科学研究科  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060251352/	
桜井 貴康  東京大学  国際・産学共同研究センター  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090282590/	
柴田 直  東京大学  大学院・新領域創成科学研究科  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000187402/	
池田 隆英  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/10000株)日立製作所  デバイス開発センター  副技師長(研究職/