「走査型トンネル顕微鏡(STM)」に関するサイレントキーワード「表面空乏層」が含まれる科研費採択研究2件

【研究名】レーザ光照射・走査型プローブ顕微鏡を用いた半導体極微細構造の特性評価
【研究代表者】高橋 琢二  東京大学   先端科学技術研究センター   助教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000020222086/	
【研究名】レーザ光励起STMによる半導体極微細構造の特性評価
【研究代表者】高橋 琢二  東京大学   先端科学技術研究センター   講師 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000020222086/