「走査型トンネル顕微鏡(STM)」に関するサイレントキーワード「Measuring machine」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】コンパクト三次元形状計測システムCompact Nano-Profilerの開発
【研究代表者】新野 秀憲  東京工業大学   精密工学研究所   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040196639/	 
【研究分担者】
吉岡 勇人  東京工業大学  精密工学研究所  准教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090361758/	
澤野 宏  東京工業大学  精密工学研究所  助教  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040514295/