「走査型トンネル顕微鏡(STM)」に関するサイレントキーワード「表面電子顕微鏡」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】エピタクシャル成長のメカニズムとコヒーレント超薄膜の物性
【研究代表者】八木 克道  東京工業大学   理学部   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090016072/	 
【研究分担者】
HORNVON Hoeg  ハノーバー大学  固体物理研究所  助手
HENZLER M.  ハノーバー大学  固体物理研究所  教授
長谷川 修司 (長谷川 修治)  東京大学  大学院・理学系研究科  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000228446/	
井野 正三  宇都宮大学  工学部  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070005867/	
谷城 康眞  東京工業大学  理学部  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040143648/	
HORN V.HOEGEN M.  HANNOVER UNIV., INST.S.S.PHYS., RA
HORN von Hoe  ハノーバー大学  固体物理研究所  助手
HENZLER M  ハノーバー大学  国体物理研究所  教授
長尾 忠昭  東京大学  大学院・理学系研究科  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040267456/	
箕田 弘喜  東京工業大学  理学部  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000020240757/