「気液界面」に関するサイレントキーワード「電位規制表面」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】電位規制界面XAFSによる溶存物質の局所構造と分布の直接測定
【研究代表者】原田 誠  東京工業大学   大学院・理工学研究科   助教 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000060313326/	 
【研究分担者】
岡田 哲男  東京工業大学  大学院・理工学研究科  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000020183030/