「走査型トンネル顕微鏡(STM)」に関するサイレントキーワード「金属半導体界面」が含まれる科研費採択研究3件

【研究名】金属・半導体界面におけるフェルミ準位ピニングの可視化
【研究代表者】長谷川 幸雄  東京大学   物性研究所   助教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080252493/	 
【研究分担者】
江口 豊明  東京大学  物性研究所  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070308196/	
原 史朗  産業技術総合研究所  主任研究官 

【研究名】バリスティック電子放射顕微鏡による金属半導体界面のエッジにおける電気的特性の測定
【研究代表者】長谷川 幸雄  東北大学   金属材料研究所   助教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080252493/	 
【研究分担者】
橋詰 富博  日立製作所  基礎研究所  主任研究員
XUE Qikun  東北大学  金属材料研究所  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090270826/	
桜井 利夫  東北大学  金属材料研究所  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000020143539/	

【研究名】表面構造及びそのドメイン構造と表面電気伝導の制御
【研究代表者】長谷川 修司  東京大学   大学院・理学系研究科   助教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000228446/	 
【研究分担者】
井野 正三  東京大学  大学院・理学系研究科  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070005867/	
長尾 忠昭  東京大学  大学院・理学系研究科  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040267456/