「EXAFS」に関するサイレントキーワード「反射高速電子回折(RHEED)」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】高いエネルギー分解能を持つ新しい全反射角X線分光法の開発とその表面研究への応用
【研究代表者】長谷川 修司  東京大学   理学部   助手 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000000228446/	 
【研究分担者】
井野 正三  東京大学  理学部  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070005867/